Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — это мощный инструмент для исследования поверхности различных материалов с высоким увеличением и разрешением. Он использует поток электронов для создания изображений, что позволяет детально рассматривать микроструктуру образцов, их текстуру и состав. При выборе сканирующего электронного микроскопа важно учитывать несколько факторов, чтобы подобрать устройство, соответствующее вашим потребностям и задачам. В первую очередь необходимо обратить внимание на тип образца, так как разные модели могут иметь ограничения по этому параметру. Некоторые микроскопы лучше подходят для исследования проводящих материалов, в то время как другие могут фокусироваться на изоляторах. Также следует оценить необходимое разрешение...